１．首先，選擇測(cè)試方法。

　　理想情況下，在老化過(guò)程中，你將花費(fèi)更少的時(shí)間使用設(shè)備，并增加整體產(chǎn)量。較差的電氣性能條件會(huì)加速缺陷的產(chǎn)生，因此能夠快速重復(fù)測(cè)試的系統(tǒng)可以減少整體老化時(shí)間。單位時(shí)間內(nèi)發(fā)生的內(nèi)部節(jié)點(diǎn)切換越多，設(shè)備面臨的挑戰(zhàn)越多，缺陷出現(xiàn)的速度也越快。

　?。玻校茫禄ミB老化，ＰＣＢ規(guī)劃和偏置電路復(fù)雜性。

　　是否有高速老化測(cè)試系統(tǒng)？但如果是機(jī)械連接或老化板本身的性質(zhì)削弱了信號(hào)質(zhì)量，那么測(cè)試的速度是多少呢？在這個(gè)問(wèn)題上。過(guò)多的電源和電源連接是否會(huì)增加整個(gè)系統(tǒng)的總電容和電感？噪音和串?dāng)_，Z糟糕的引腳驅(qū)動(dòng)解決方案是什么？你想根據(jù)所需的驅(qū)動(dòng)電流量限制高速信號(hào)嗎？這些瓶頸會(huì)影響某些速度。此外，有太多的負(fù)載，阻抗和電路偏置。設(shè)置和保護(hù)元件的值的選擇也會(huì)影響老化性能。

　?。?、高速測(cè)試人員程序下載和轉(zhuǎn)換。

　　一些老化的測(cè)試系統(tǒng)有自己的測(cè)試語(yǔ)言。需要１００％節(jié)點(diǎn)切換的測(cè)量?jī)x器不需要進(jìn)一步開發(fā)程序。有些系統(tǒng)可以直接將高速測(cè)試程序轉(zhuǎn)換為老化應(yīng)用程序。在老化過(guò)程中可以做更精確的測(cè)試。

　?。矗到y(tǒng)提供人員進(jìn)行參數(shù)檢測(cè)。

　　如果老化試驗(yàn)系統(tǒng)可以進(jìn)行速度試驗(yàn)，就可以獲得可靠性研究的其他相關(guān)數(shù)據(jù)。它還有助于簡(jiǎn)化老化后的測(cè)試過(guò)程。