1、首先是測(cè)試方法的選擇。

理想的情況是器件在老化制程上花費(fèi)的時(shí)間最少，這樣可以提高總體產(chǎn)量。惡劣的電性能條件有助于故障加速出現(xiàn)，因此能快速進(jìn)行反復(fù)測(cè)試的系統(tǒng)可減少總體老化時(shí)間。每單位時(shí)間里內(nèi)部節(jié)點(diǎn)切換次數(shù)越多，器件受到的考驗(yàn)就越大，故障也就出現(xiàn)得更快。

2、老化板互連性、PCB設(shè)計(jì)以及偏置電路的復(fù)雜性。

老化測(cè)試系統(tǒng)可能被有些人稱為高速?測(cè)試，但是，如果機(jī)械連接或老化板本身特性會(huì)削弱信號(hào)質(zhì)量，那么測(cè)試速度將會(huì)是一?個(gè)問題。如像過多機(jī)電性連接會(huì)增大整個(gè)系統(tǒng)的總電容和電感、老化板設(shè)計(jì)不良會(huì)產(chǎn)生?噪聲和串?dāng)_、而很差的引腳驅(qū)動(dòng)器設(shè)計(jì)則會(huì)?使快速信號(hào)沿所需的驅(qū)動(dòng)電流大小受到限?制等等，這些都僅是一部份影響速度的瓶頸，另外由于負(fù)載過大并存在阻抗、電路偏?置以及保護(hù)組件值的選擇等也會(huì)使老化的性能受到影響。

3、對(duì)高速測(cè)試儀程序的下載及轉(zhuǎn)換能力。

有些老化測(cè)試系統(tǒng)有自己的測(cè)試語言，對(duì)需要做100%節(jié)點(diǎn)切換的被測(cè)器件不用再開發(fā)程序；而有些系統(tǒng)能夠把高速測(cè)試儀程序直接轉(zhuǎn)換到老化應(yīng)用上，可以在老化過程中進(jìn)行更準(zhǔn)確的測(cè)試。

4、系統(tǒng)提供參數(shù)測(cè)試的能力。

如果老化測(cè)試系統(tǒng)能進(jìn)行一些速度測(cè)試，那么還可得到其他一些相關(guān)失效數(shù)據(jù)以進(jìn)行可靠性研究，這也有助于精簡老化后測(cè)試制程。

5、根據(jù)時(shí)間動(dòng)態(tài)測(cè)試參數(shù)的能力，如電壓與頻率。

如果老化測(cè)試系統(tǒng)能夠?qū)崟r(shí)改變參數(shù)，則可以加快通常屬于產(chǎn)品壽命后期階段故障的出現(xiàn)。對(duì)于某些器件結(jié)構(gòu)，直流電壓偏置及動(dòng)態(tài)信號(hào)的功率變動(dòng)都可加速出現(xiàn)晚期壽命故障。

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